X-Strata920型-日立分析台式X荧光镀层测厚仪X-Strata920

一、仪器名称：台式X荧光镀层测厚仪

二、仪器型号：X-Strata920

三、生产厂家：日立分析仪器

四、产地：德国

山东总代：青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71

五、仪器简单介绍

X-Strata920XRF ，镀层测厚仪，高精确度，少浪费

若不足一微米在您的镀层测量业务成败中举足轻重，则请选择X-Strata920。

您可选择比例计数器或硅漂移探测器（SDD），确保拥有正确配置。

如果您从事电子或金属表面处理，我们可提供适合您业务的解决方案。X-Strata920提供多种配置，可分析单层和多层镀层（包括合金层）。

我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化，确保您获得可靠、可重复结果以满足百种应用，包括：PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀性处理、装饰表面处理、耐磨损处理和耐高温处理等。

山东总代：青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71

六、 仪器选型

半自动固定样品台：

ØZ轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制

Ø样品台高度固定，测量大样品高度33mm

Ø仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（不含电脑和显示器）

半自动加深样品台

ØZ轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制

Ø样品仓抽屉式设计，4个位置上下可调，每格高度25.4mm

Ø大样品高度160mm

Ø样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm

Ø仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm(不含电脑和显示器)

Ø自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度大于160mm的样品测量，仓内抽屉式设计，多个位置上下可调，每格高度25.4mm

全自动样品台

ØZ轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴自动控制

Ø可提供对样品的自动和编程控制，多点测量

Ø鼠标控制样品台移动，精确地定位样品测量点

Ø测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式

Ø样品台移动行程：178×178mm

Ø样品台尺寸：宽610×深560mm

Ø大样品高度33mm

Ø仪器外形尺寸：宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)

多种型号规格的准直器

圆形0.2mm(8mil)

矩形0.05*0.05mm(2*2mil)

矩形0.05*0.25mm(2*10mil)

Ø单准直器组件；

Ø多准直器自动控制组件：多可同时装配6种规格的准直器；

Ø圆形、矩形多种规格尺寸任选（红色常用）

七、仪器特点

Ø测量元素范围：钛Ti²²---铀U⁹²；

Ø测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

Ø测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；

Ø快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；

Ø可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；

Ø进行贵金属检测，如Au karat评价；

Ø材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

Ø强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、大值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；

Ø结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；

Ø测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；

Ø激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；

Ø拥有NIST认证的标准片；

Ø提供服务及技术服务支持。

X-Strata920三步即可获得测量结果

1 将产品放置在样品台上

Ø无损分析，无需样品制备

Ø开槽式样品仓便于放置产品

Ø超大样品台便于大面积产品（如：PCB）测量

Ø配备了门开闭传感器，增强了安全性

2 一键完成视频聚焦

Ø一键自动镭射聚焦，避免人为操作误差

Ø标配固定焦距12.7mm，选配变焦

Ø高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置，画面清晰、测试点准确定位；放大倍数：30倍（标配），50倍（选配）

Ø自动台：利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作

Ø简单快速的多点分析

3 一键完成测量

Ø几秒内显示结果

Ø保存、打印或传输结果

Ø测试结果可一键导出PDF（标配）、Excel（选配）

Ø使用预置和客户自定义的报告模板

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