日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216

日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216

消除测量者的偏差舒适，准确地测量1μm或更小的超薄膜

* 1线性度是
　　显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。　　位移量
　为±0.2％
/ 100μm±0.2μm
　　位移量/ 500μm±1μm
　　位移量/ 1000μm±2μm
　　（测量误差因位移量而异）

• 重复性/ 0.05μm
  （使用升降器重复上下触控笔）
• 测量分辨率/ 0.01μm
• 线性度/±0.2％*　1
• 可以改变测量压力（z小测量压力0.14N）
• 米/ R30超硬球面
• 测量范围/ 200μm　* 2
• 测量架/测量表面Φ50陶瓷制成
• 输出/模拟和RS232C
• 电源/ AC100V
• 选件/
  ・软件・数据打印机・更换笔
  ·真空台·外部置零开　　　　　　　　　

• * 2根据被测物体的材质，测量范围可能会改变。

*注意* HKT-1240已因放大器单元的停产而停产。HKT-1216将替代HKT-1240。