HR-X-UV-StellarNet超高分辨率光谱仪-便携式分光光度计

产品详情

超极限的高分辨率光谱仪，分辨率优于0.05nm

Stellarnet HR-X极限高分辨率光谱仪系列代表了stellarnet制造的高分辨率水平，不同配置的超高分辨率光谱仪可以在紫外线，紫外可见光和近红外光谱范围内实现高分辨率。与标准的HR系列高分辨率光谱仪和 BLUE-Wave系列型号光谱仪相比，stellarnet的HR-X机箱具有2倍和4倍分辨率的光路，把潜在的光分辨能力提高到原来的2倍到4倍。

基于基本的物理学原理，HR-X光纤光谱仪分辨率的提高是以减小可测量的波长范围和增加光谱仪的物理尺寸为代价的。但这种设计一旦定型，HR-X Hi Res光谱仪就提供了佳分辨率，并且具有没有移动部件的任何模块化的优点。

stellarnet高分辨率光纤光谱仪可以监控和表征激光波长和其它各种光源的光谱，具体应用包括测量可调谐激光器和LED，还包括等离子体，LIBS的元素发射或其他高功率光发射。此外，通过结合布拉格光栅技术，HR-X高分辨率光谱仪还可以实现对温度，压力和位置进行光学检测。

HR-X高分辨率光谱仪的结构

坚固耐用——可拆卸的光谱仪组件和控制电子设备在坚固的金属外壳内进行保护，适用于便携式，过程，实验室和现场应用。

带有预设校准和光谱仪设置的板载存储器以及快照存储器，可从2048的高灵敏度CCD提供瞬时光谱图像。

HR-X高分辨率光谱仪的功能及主要特色：

-分辨率优于0.05nm！

-增加的光路提供了比普通HR高分辨率光谱仪高2倍的分辨率

-UV-VIS和NIR / WDM等不同波段选项

-单元可堆叠用于广泛的分析

-在800nm以上的波段范围提供超高分辨率

StellarNet超高分辨率光谱仪规格参数（选型指南）：

下表是HR-X高分辨率光纤光谱仪的不同配置，即搭配不同狭缝和光栅时的性能参数。

1.主要选择自己要检测的波长范围。例如，我需要检测的波长是300-700，那我所选择的规格必须包括300-700这段波长，

2.狭缝范围越小，分辨率越高。狭缝范围越大，分辨率越低，狭缝的选择要根据自身实际的需求进行选择。具体请咨询我们。

HR-X型号	波长范围	光栅g / mm	光栅范围	Nm /像素色散	狭缝7 nm res。
HR-X-UV1	240-300	2400	60	0.029	0.05
HR-X-UV2	300-360	2400	60	0.029	0.05
HR-X-UV3	360-420	2400	60	0.029	0.05
HR-X-VIS1	420-480	2400	60	0.029	0.05
HR-X-VIS2	480-540	2400	60	0.029	0.05
HR-X-VIS3	540-600	2400	60	0.029	0.05
HR-X-VIS4	600-650	2400	50	0.024	0.05
HR-X-VIS5	650-700	2400	50	0.024	0.04
HR-X-NIR1	700-800	1200	120	0.059	0.09
HR-X-NIR2	800-900	1200	120	0.059	0.09
HR-X-NIR3	900-1000	1200	120	0.059	0.09
HR-X-NIR4	1000-1100	1200	120	0.059	0.09

StellarNet超高分辨率光谱仪技术指标：

动态范围：	2000：1with 8 decades	尺寸图	9英寸x 10.5英寸x 2.2英寸
光学分辨率：	参见规格表–低至0.05 nm	能量消耗：	100mA @ 5伏直流
探测器类型：	2048像素CCD，PDA选项	数据传输速度：	30Hz或1000Hz 1
探测器范围：	190-1600纳米	检测器集成：	1毫秒至8分钟
像素大小：	14 x 200微米	狭缝尺寸选项：	7，14，25，50，100，200 um
衍射光栅：	全息和直纹	杂散光：	在435nm下<0.1％; 在600nm下<0.05％
光栅克/毫米	300、600、1200、1800、2400	光纤输入：	SMA-905 0.22 NA单纤
信噪比：	CCD，PDA 1000：1 2000：1	操作系统：	Windows和Linux 2，Andriod 2，iOS 2
接口：	USB-2或无线上网2，RS232 3，SPI 3，4-20mA的3 ，数字I / O 3 或以太网3
随附软件：	SpectraWiz程序，WinSDK（C，C＃，VB，Delphi），可定制的LabVIEW，用于Excel的VBA（CRI和LED报告）
数字化仪：	16位