HTN-X2-手持式合金元素分析仪

  HTN-X2手持式合金元素分析仪自带标准化校准功能，外形小巧，手持应用，实施随地进行现场检测分析，方便野外工作；固体、液体、粉末样品均可直接测定。200W 像素摄像头可拍照、像。清晰记测试位置，并能将数据直接显示在拍摄的图片上；无损检测，对试样表面不产生任何破坏。专门用于对被测样品中元素进行定性和定量分析。

产品概述：

由 X 射线管发出的一次 X 射线激发样品，使样品所含元素辐射特征荧光 X 射线，根据其不同的能量及强度值对被测样品中元素进行定性和定量分析。

主要结构：

前置放大器：可以减少电缆衰减，防止主放大器反馈对探测器的影响。

探测器：采用硅漂移探测器，具有噪声低、分辨率高，而且高技术性能佳。脉冲高度选择器将摄入 X 摄像的光子能量分开。

主放：将迁至放大器的输出脉冲进行线性放大，使其电压高度足以启动脉冲高度分析器，具有线性放大、增益稳定、噪声低、过载恢复快，热稳定型良好等特点。

产品特点：

自动或手动测试模式，固体、液体、粉末样品均可直接测定，可显示为结果模式或图谱模式；

为了确保未知样品测试结果的准确性，自带标准化校准功能。另外，随机附带标准样块；

锂电池、外接电源适配器均可使用， 8 小时连续工作射线稳定性不小于 0.2% ；

支持简体中文、英语、韩语三种语言操作界面；

外形小巧，手持应用，实施随地进行现场检测分析，方便野外工作；

32G 容量 SD 卡能海量存储测试数据， U 盘 USB 接口外接 8G 容量随时传输测试数据；

200W 像素摄像头可拍照、像。清晰记录测试位置，并能将数据直接显示在拍摄的图片上；

无损检测，对试样表面不产生任何破坏。

技术参数：

标准配件：

金属元素分析仪、32G容量SD卡、8G容量U盘、触摸笔、锂电池、使用说明书、电源适配器、标准样块、十字螺丝刀、包装箱。